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系统设备
SP-A011A01型光探测器自动测试系统
光探测器自动测试系统平台基于开放式硬、软件体系结构设计，能够灵活地扩展硬件，快捷方便的建立测试程序，可支持多种仪器设备，灵活的按需进行配置，从而为用户提供通用、灵活、规范的测试系统解决方案。
光探测器测试系统可自动对光接收组件PIN-FET相关指标进行测试、记录、统计、分析，可用于PIN-FET器件的检验、筛选和老化。
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